SOC-100半球定向反射率测量仪
SOC-100半球定向反射率测量仪（HDR）具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，可提供FTIR所涵盖光谱区域10°~80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。标准FTIR的光谱范围为2~25μm，可定制扩展到50μm。
测量数据
※ 测量范围：2~25μm，可扩展至200μm
※ 10°~80°之间的平行、垂直及非偏振光束反射率
※ 测量漫反射和镜面反射，及0°入射的透射率
※ 定向发射率的角度-波长-温度函数
※ 总半球发射率的温度函数
应用
※ 支持红外图像模拟和红外材料/涂层的开发
※ 鉴定和测量表面污染，散射和镜面反射检测
※ 测量散装和粉状物料的偏振反射，计算光学常数（n，k）
※ 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据
※ 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据
图1：12μm下SiO2方向反射率 图2：反射率-波长函数 图3：测量光路示意图
规格参数
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测量配置 |
先进的全自动18’’半椭球反射率光谱仪 |
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光谱范围 |
波长范围取决于FTIR，如下表所示： 标准 2.0-25.0μm （5000-400 cm-1） 固体基质 14.0-200.0μm (700-50 cm-1) |
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探测器 |
DTGS检测器，不需LN2，比HgCdTe（MCT）范围更宽 |
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分辨率 |
根据需求：2、4、8、16或32 cm-1的分辨率可以使用 |
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样品尺寸 |
样品直径1”；最大可容纳尺寸3”×4”；加热温度达500℃ |
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